1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档； c．标称误差 频率范围25kHz～10MHz100kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2% 频率范围10MHz～60MHz10MHz～160MHz 固

介电常数介质损耗测试仪装置： 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10

材料高频介电常数测定仪 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4

介电常数测试仪

介电常数测试仪/介质损耗因数和电容率测试仪的详细描述： 电： / 介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 概述 A型高频Q表和C型高频Q表主要区别 AC 测试频率范围25kHz～60MHz100kHz～160MHz

固体材料介电常数介质损耗测试仪

材料介电常数测定仪

介电常数介质损耗测试仪主要技术指标： 2.1 tanδ和ε性能： 2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。 2.1.2 tanδ和ε测量范围： tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50 2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）： tanδ：±5%±0.00005，ε：±2% 工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器 Q值