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介电常数测试仪谁家好一些

发布时间:  2024-08-14

产品型号:  

产品报价:  

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  介电常数测试仪主要特点:空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

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产品概述

介电常数测试仪主要特点:空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 

 

介电常数测试仪特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

介电常数测试仪仪器技术指标:

Q值测量:

a.Q值测量范围:5~999。

b.Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档。

c.标称误差


频率范围:25kHz~10MHz; 

固有误差:≤5%±

满度值的2%;

工作误差:≤7%±满度值的2%;


频率范围:10MHz~50MHz;

 固有误差:≤7%±满度值的2%;

工作误差:≤10%±满度值的2%。

 

振荡频率:

a.振荡频率范围:

25kHz~50MHz;

b.频率分档

25~74kHz,

 74~213kHz,

 213-700kHz,

 700kHz~1.95MHz,

1.95MHz~5.2MHz,

 5.2MHz~17MHz,

 17~50MHz。

 

 

电感测量:

a.测量范围:0.1μH~1H。

b.分 档:分七个量程。

0.1~1μH,

1~10μH,

10~100μH, 

0.1~lmH,

1~10mH, 

10~100mH,

100 mH~1H。

 


电容测量:

a.测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则);

b.电容量调节范围


主调电容器:40~500pF; 

准 确 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;

微调电容量:-3pF~0~+3pF; 准 确 度:±0.2pF。

 

 

介电常数测试仪主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作频率范围:50kHz~50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40~500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH

 

介电常数测试仪工作频率范围是10kHz~120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。

绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。


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