介电常数介质损耗试验仪

介电常数介质损耗试验仪

介电常数介质损耗试验仪：GDAT-A
满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
     GDAT-A       
的技术指标
  1．Q值测量 

Q值测量范围：2～1023。  

Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

项    目    GDAT-A
频率范围    20kHz～10MHz；

固有误差   ≤5％±满度值的2％；

工作误差   ≤7％±满度值的2％；
频率范围   10MHz～60MHz；
固有误差   ≤6％±满度值的2％；
工作误差   ≤8％±满度值的2％。
2．电感测量范围：14.5nH~8.14H 
3．电容测量：1~ 460
项    目       GDAT-A
直接测量范围；  1～460pF
主电容调节范围
          准确度；30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％
   注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则
   4．信号源频率覆盖范围
项     目    GDAT-A
频率 范围    10kHz～50MHz
频率分段
（虚拟）10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz     
 概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

介电常数介质损耗测试仪使用方法：

测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），           如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。

d. 短按ON/OFF按键，打开液晶显示屏。

e. 调节平板电容器测微杆，使平板电容器二极片相接为止，长按SET按键将初始值设置为0。
4．介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的
北京市海淀区建材城西路50号 ：
测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容
量，使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，此时调节平板电容器，
使Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数：
                        Σ＝D2 / D4                          

5．介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。
把被测样品插入二极片之间，改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点
上，读得Q 值，记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，再改变Q 表上的主调电容
容量，使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值，记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置，再改变Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电
容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数


式中：CZ 为测试装置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）
C0 为测试电感的分布电容（参考LKI-1 电感组的分布电容值）