介电常数介质损耗试验仪
介电常数介质损耗试验仪:GDAT-A
介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
介电常数介质损耗试验仪的技术指标
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023。
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
项 目 GDAT-A
A 频率范围 20kHz~10MHz; B 固有误差 ≤5%±满度值的2%;C 工作误差 ≤7%±满度值的2%; D 频率范围 10MHz~60MHz; E 固有误差 ≤6%±满度值的2%; F 工作误差 ≤8%±满度值的2%。
2.电感测量范围:14.5nH~8.14H
3.介电常数介质损耗试验仪电容测量:1~ 460
项 目 GDAT-A
直接测量范围 1~460pF
主电容调节范围 准确度30~500pF;150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4.介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
项 目 GDAT-A
频率范围;10kHz~50MHz
频率分段(虚拟)10~99.9999kHz;100~999.999kHz;1~9.99999MHz;10~60MHz
介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
电感:
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
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