介电常数测试仪GDAT-A

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

型号:价格:面议

时间:2024-08-12

北京市
  • 薄膜工频介电常数介质损耗测试仪(液体)

    主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。

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    时间:2024-08-12

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  • 介电常数测试仪 介电常数 介电常数试验仪 检测设备仪器

    空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

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    时间:2024-08-12

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  • 北京哪里生产介电常数介质损耗测试仪

    空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

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  • 介电常数介质损耗测试仪器

    介电常数介质损耗测试仪专业供应商,如需请致电详谈。

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    时间:2024-08-12

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  • 介电常数测试仪/介质损耗

    c类数显Q表工作频率范围是10kHz~60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理,以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值,电感量和分布电容量;电容器的电容量和损耗角。配以夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗(tanδ)和介电常数(ε),高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等进行测试。

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  • 介电常数检测仪

    介电常数测试仪

    型号:GDAT-A价格:面议

    时间:2024-08-12

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  • 介电常数测试仪(试验仪器)

    香港正版资料专业生产介电常数测试仪,: ,

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    时间:2024-08-12

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  • 介电常数测试仪(正品)

    基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。

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    时间:2024-08-12

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    主营产品:电压击穿试验仪,介电常数介质损耗测试仪,体积表面电阻率测试仪,海绵泡沫落球回弹试验仪,介电常数测试仪,体积电阻率测试仪,海绵泡沫压陷硬度试验仪,介电击穿强度试验仪,橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机,耐电弧试验仪,毛细管流变仪,自动进样器,电气强度试验机,欢迎来电咨询。
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