发布时间: 2024-08-15
产品型号: BDH-20KV
厂商性质: 生产厂家
所 在 地: 北京市海淀区上地科技园上地十街1号
产品特点: GB1411高分子适合GB1411-2002《固体电工绝缘材料高压小电流间歇耐电弧试验方法》、IPC650、IEC 61621、ASTMD495标准,并适合JEC 149、UL 746A等试验方法。应用于电机、电器和家用电器等行业的电工用塑料、树脂胶和绝缘漆等绝缘材料的耐电弧性能评定主要适用于固体绝缘材料如:塑料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘油、绝缘漆、纸板等介质的耐电弧性能测试;
BDH-20KV耐电弧试验仪
性能特点:
本仪器的技术性能指标*GB 1411-78 及 ASTM 495的规定。
1、试验能按下表自动进行,并显示各试验过程。
注:随着国家标准版本的不断更新,我们将提供附合新版本国家标准的程序芯片,保证用户的软件不断升级。
2、电弧通断时间误差: 小于 ±10ms。
3、按照 IEC 61621:1997的要求,设计了新的电极架。该新电极架可以精确调节电极*对试样压力为0.5±0.05N;可以使两电极精确对准;可以精确调节电极间距离、夹角,使各参数*符合标准要求。
4、能自动运行10、20、30、40mA连续电弧试验。
适用范围:
主要适用于固体绝缘材料如:塑料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘油、绝缘漆、纸板等介质的耐电弧性能测试;
耐电弧试验机采用计算机控制,试验过程中可在线观察试验曲线;自动存储试验条件及试验结果等数据,并可存取、显示、打印
材料的耐电弧性,系指当在靠近固体绝缘材料表面产生电弧放电时,由于产生热、化学分解,或被侵蚀等,在试样表面形成碳化导电通路,使之丧失绝缘性能的现象。
BDH-20KV型耐电弧测试仪是根据GB 1411-78《固体电工绝缘材料高压小电流间歇耐电弧试验方法》、IEC 61621及ASTM D495设计、制造的,并符合JEC 149、UL 746A等试验方法。本仪器是在相距6.35mm的两钨棒电极上,由间隙到连续施加12500V电压和10~40mA工频的电弧电流,使试样表面经受逐渐严酷的燃弧条件,从而较细地分辨出材料的耐电弧性,以从电弧产生至材料破坏所经过的全部时间作为评定结果。它广泛应用于电机、电器和家用电器等行业的电工用塑料、树脂胶和绝缘漆等绝缘材料的耐电弧性能评定。
BDH-20KV型耐电弧测试仪,为了适应贯彻即将颁布的新国家标准(与IEC 61621:1997等同),增加了按IEC 61621:1997编制的新程序。即既可用于现行国家标准,又可按新国家标准和IEC标准运行。
技术参数:
序号 项目 参数
1 输入电压 交流 220 V
2 输出电压 交流 0--12.5 KV
3 电器容量 3 KVA
4 试验方式 间歇电弧,连续电弧
5 试验电流 10MA-20MA-30MA-40MA可选
6 试验电压控制误差 ≤ 1%
7 电弧通断时间误差 <5ms
8 试验电压连续可调 0--12KV
9 电极规格 不锈钢板状电极 25.4mm*12.7mm*0.15mm
10 钨钢电极直径 2.5mm*70mm
11 电极配置角110度
12 电极重量:50G
13 安全防护措施 (1)超压保护
14 (2)过流保护
15 (3)短路保护
16 (4)安全门开启保护
17 (5)软件误操作保护
序号 配置 数量 单位
1 试验主机 1 台
2 2万伏高压发生器 1 台
3 全自动微电脑电压调压装置 1 套
4 电压采集及电流采集隔离式变送装置 1 套
5 试验电极 2 套
6 放电棒 1 只
7 计算机耐电弧测控软件 1 套
8 计算机 1 套
9 彩色喷墨打印机 1 台
10 程序光盘 1 套
11 产品使用说明书 1 份
12 合格证 1 份
13 随机工具 1 套
: 、
电极和电极装置
①.电极
电极由直径2.4mm±0.05mm无裂纹、凹痕或粗糙疵点的钨棒或不锈钢制成。活动电极长至少20mm。推荐将这个活动电极固定于把柄上,使得在削尖后的电极*能准确定位。该电极*应经研磨抛光,以形成与轴线夹角为30°± 1°的平椭圆面。图2展示出固定于合适把柄上的电极的一个实例。
②.电极装置
该装置提供了一种夹持电极和试样的方法,使得电弧按正确的角度施加于试样的上部表面。该装置应这样制成,使得每一个试样上部表面在每一次试验时都处在同一高度上。应调节每一电极,使得它以0.5N±0.05N的力无约束的静置于试样上。不应对试样进行抽风,只有当试验过程中试样释放出烟雾或气体时,才允许把这些燃烧产物排放掉。
两个电极应这样定位,使得当这两个电极静置于试样上时,它们是处在同一个垂直面内且它们与水平方向倾斜35°± 1°(这样,两电极轴间夹角为110°± 2°),如图3所示。椭圆*表面的短轴应成水平,两*间隔调节到6.35mm±0.1mm。
从略高于试样的平面位置,应提供观察电弧的清晰视域。