绝缘材质介电常数介质损耗试验仪厂家
介电常数介质损耗试验仪
GDAT-A
介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
塑料材料介电常数介质损耗测试仪厂家技术指标
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023。
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
项 目GDAT-A
频率范围20kHz~10MHz;
固有误差≤5%
工作误差≤7%
频率范围10MHz~60MHz;
固有误差≤6%
工作误差≤8%
2.电感测量范围:14.5nH~8.14H
3.介电常数介质损耗试验仪电容测量:1~ 460
项 目 GDAT-A
直接测量范围
1~460pF 主电容调节范围 准确度 30~500pF 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4.介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
项 目
GDAT-A
频率范围
10kHz~50MHz
频率分段
(虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
塑料材料介电常数介质损耗测试仪厂家电感:
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低,治疗 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
介电常数测试仪根据静电学的研究成果, 真空中一个孤立的电荷q 会在其周围产生电场E,当另外的一个试验电荷q0 进入到该电场中时会受到电场力的作用。由电荷q 所产生的电场强度为:
其中, ε0为真空中的介电常数;r 为距离点电荷q 的径向距离。一般来说,电场强度是一个矢量。试验电荷q0 在距电荷q的距离为r 的点上受到的电场力为:
根据力的反作用性质,电荷q 也同样受到试验电荷q0所产生的电场的力的作用且作用力的大小相等方向相反。根据式(1) 可知,真空中的介电常数ε0表征了孤立电荷q 在给定的距离r 上产生的电场强度的大小。如果将式(1) 中的真空条件换为某种电介质, 则同样的孤立电荷q 所产生的电场强度将可表示为:
其中,ε为该种电介质的介电常数。在实际应用中,人们通常将真空中的介电常数ε0选作一个参照,而将电介质的介电常数ε与ε0的比值定义成为一个无量纲的相对介电常数εr,如式(4) 所示:
由于真空是一个理想的电介质模型( 没有原子、分子) ,所以,在实际电介质中由于束缚电荷效应使原电荷q所产生的电场有所下降的情况在真空中不可能出现。因此, 针对实际电介质的相对介电常数Er 总是满足大于或等于1。
由式(3) 可见,介电常数ε表示了电荷q 在电介质中所产生的电场强度的大小的一个制约因素( 除了距离之外,也是*的制约因素) 。显然,这种推论在静电场的情况下是*可以被接受的,但是若要将这一推论直接应用到交变电场的情况似乎还有些不充分。交变电场情况下电介质的微观表现机理与宏观作用的研究取得了一些成果,但是仍然有待更加深入的研究,也是目前电介质物理、量子物理的重要研究方向和内容之一。
可以确认的是电介质的介电常数所表征的属性在交变电场的情况下也会对交变电场产生影响。比如,交变电场在电介质中的传播速度会降低, 频率不变,波长会变短( 电磁传播理论)并且介电常数越大,相应的改变也会越大。
标签:介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 高频介电常数测试仪
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北广公司自主研发电性能专业检测仪器
序号 | 设备名称 | 设备型号 | 测试指标 | 备注 |
1 | 电压击穿试验仪 | BDJC10KV-150KV | 介电强度、泄漏电流 | 介电强度、泄漏电流 |
2 | 体积表面电阻测定仪 | BEST-121 | 体积电阻率、表面电阻率 | 液晶显示 |
3 | 体积表面电阻率测定仪 | BEST-212 | 体积电阻率、表面电阻率 |
|
4 | 导体电阻率测定仪 | BEST -19 | 导体电阻率 | 触摸屏 |
6 | 半导体电阻率测定仪 | BEST-300C | 半导体电阻率 | 触摸屏 |
7 | 高频介电常数测试仪 | GDAT--A | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ-160MHZ |
8 | 工频介电常数测试仪 | BQS-37A | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ |
9 | 耐电弧试验仪 | BDH-20KV | 耐电弧 | 微机控制、触摸屏控制 |
10 | 高压漏电起痕试验仪 | BLD-6000V | 高压等级测试 | zui高电压6KV |
11 | 耐电痕化指数测定仪 | BLD-600V | 漏电痕迹、电痕化CTI\PTI | zui高电压600V |