绝缘材料介电常数测试仪主要技术指标:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作频率范围:50kHz~50MHz 四位数显,压控振荡器
Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率
可调电容范围:40~500 pF ΔC±3pF
电容测量误差:±1%±1pF
Q表残余电感值:约20nH
绝缘材料介电常数测试仪使用方法
高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。
测试注意事项
a.本仪器应水平安放;
b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;
c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;
d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;
e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;
f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)
工作特性
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023;
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
c.标称误差
| A | C |
频率范围 | 25kHz~10MHz | 100kHz~10MHz |
固有误差 | ≤5%±满度值的2% | ≤5%±满度值的2% |
工作误差 | ≤7%±满度值的2% | ≤7%±满度值的2% |
频率范围 | 10MHz~60MHz | 10MHz~160MHz |
固有误差 | ≤6%±满度值的2% | ≤6%±满度值的2% |
工作误差 | ≤8%±满度值的2% | ≤8%±满度值的2% |
Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000
6.Q表正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c.外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。
工作频率范围是10kHz~120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。
绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。
同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。
工作特性
平板电容器
极片尺寸:φ25.4mm
极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm
园筒电容器
电容量线性:0.33pF / mm±0.05 pF
长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3. 夹具插头间距:25mm±1mm
4. 夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)
工作原理
本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。
维修方法
本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和
保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:
?