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介电常数相对电容率测试仪

发布时间:  2024-08-14

产品型号:  gdat-a

产品报价:  

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  介电常数相对电容率测试仪工作原理本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数

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产品概述

介电常数相对电容率测试仪工作原理

本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数

 

 

介电常数相对电容率测试仪工作特性

  • 平板电容器:极片尺寸:φ25.4mm

极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm

 

  • 园筒电容器:电容量线性:0.33pF / mm±0.05 pF

长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm

 

3.  夹具插头间距:25mm±1mm

 

    4.  夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)

 

 

 

特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

 

工作频率范围是10kHz~120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。

绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。

 

 

 

测试顺序

先要详细了解配用仪器的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。

  • 把配用的仪器主调谐电容置于zui小电容量,微调电容置于-3pF。
  • 把本夹具测试装置插到仪器测试回路的“电容”两个端子上,即插入到仪器上方接线铜柱的右边两个圆柱内。

 

  • 配上相适应的高Q值电感线圈,选择电感没有特别的方法,只有试或凭经验来选择合适的那个,一般选择使高频仪器显示Q值zui大的电感zui为合适。
  •  

注:以上步骤是为了使高频仪器工作起来(仪器是LC谐振工作原理,所以要选择合适的电感才能使仪器谐振)

 

 

 


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