介电常数损耗因数试验仪

介电常数损耗因数测试仪系统由BH916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*解决方案。

1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

BH916测试装置                                         GDAT高频Q表

平板电容极片 Φ50mm                                  可选频率范围20KHz-60MHz、

间距可调范围≥15mm                                   频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm                              主电容调节范围30-500

测微杆分辨率0.001mm                                  主调电容误差<1%或1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)                     Q测试范围2～1023

介电常数损耗因数测试仪基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有*人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10^-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

　　 GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，*摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

介电常数损耗因数测试仪因数（Q)的电感器是测量系统*的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感

数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算*的。

介电常数损耗因数测试仪标准配置：

高配Q表 一只 

试验电极  一只 （c类）

电感      一套（9只）

电源线    一条

说明书    一份

合格证    一份

保修卡    一份

介电常数损耗因数测试仪工作特性

   1．Q值测量

  a．Q值测量范围：2～1023；

  b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

c．标称误差

   2．电感测量范围

3．电容测量

   注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。

   4．信号源频率覆盖范围

  5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000

   6．Q表正常工作条件

   a. 环境温度：0℃～+40℃；

  b．相对湿度：<80％；

  c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

   7．其他

  a．消耗功率：约25W；

   b．净重：约7kg；

   c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。

介电常数损耗因数测试仪维修

1．新购仪器的检查

新购的仪器能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。

LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。

2．使用和保养

高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。

a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；

b．使仪器经常保持清洁、干燥；

c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。

介电常数损耗因数测试仪仪器特点：
☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。
☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。
☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。
☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。
☆CVT测量 *自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个zui终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。
☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。
（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。
（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。
（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。
（5）防“容升"：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升"效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。
☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。
☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。
☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。
☆可选购与计算机通信应用程序。

介电常数损耗因数测试仪电感器：

按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。

例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

介电常数损耗因数测试仪特点： 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号   源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

介电常数损耗因数测试仪主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作频率范围：50kHz～50MHz    四位数显，压控振荡器

Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率

可调电容范围：40～500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差：±1%±1pF

Q表残余电感值：约20nH

Dielectric constant loss factor testing instrument system by BH916 test equipment (fixture), GDAT type high frequency Q table, data acquisition and tan delta automatic measurement control (into GDAT) and LKI-1 type inductor, which according to GB / T 1409-2006, American Standard ASTM D150 and International Electrotechnical Commission IEC60250 provisions of the design. System provides the best solution for automatic measurement of insulation materials, high frequency dielectric loss angle tangent (tan delta) and dielectric permittivity (epsilon).
1, the BH916 dielectric loss device "(test fixture) is the core detection component of the test system. It consists of a LCD digital display micro measuring device and a pair of the precision machining of adjustable spacing plate capacitor pole piece composition. The plate capacitor electrode plate is used for holding the sample of the material sample, and the micro measuring device is shown to thickness of the sample of the material being measured.. Quantitative change through the tested sample material into a parallel plate capacitor and do not put it in the sample when the Q value measured to insulating material loss angle tangent value. From the change of the plate spacing of the plate capacitor, the dielectric constant of the insulating material can be converted.. BH916 dielectric loss test device is the latest development update replacement products, precision machining design, precise LCD digital readout, one click clear function to overcome the mechanical dial reading error and cylindrical capacitor device inevitable measurement errors.
GDAT high frequency Q meter for BH916 test device
Flat sheet capacitor with 50mm optional frequency range 20KHz-60MHz,
Spacing adjustable range of more than 15mm frequency indication error of 3 * 10-5 + 1 words
The main capacitance adjustment range of 30-500 + 0.01mm 25mm for fixture plug distance
Micrometer rod resolution 0.001mm main capacitor error of <1% or 1pF
Clamp the loss tangent value is less than 4 * 10-4 (1MHz) Q test range from 2 to 1023
Dielectric loss factor testing instrument based on series resonance principle in the GDAT high-frequency Q table "is secondary instrument of testing system, the innovative design of the digital tone capacitor on behalf of the industry's highest achievement, resulting in a new search frequency, capacitance double scanning GDAT. The table has advanced man-machine interface, the LCD screen display the measuring factor: Q value, inductance L, tone capacitor C, the test frequency f, resonant trend of pointers. The high frequency source uses direct digital synthesis, the test frequency 200KHz-160MHz or 10KHz-60MH, the frequency accuracy is as high as 1 * 10-6. GB / T 1409-2006 provisions of the Q table method to determination of electrical materials, high frequency dielectric loss angle tangent value (tan delta) and dielectric permittivity (epsilon), the material under test as a flat capacitor medium, and the auxiliary inductor constitutes a series resonant factor is introduced into the Q test loop, in order to obtain the high test sensitivity. Thus, the test results of the Q method are more real, which reflects the characteristics of the medium in high frequency operation state..
The full digital interface and microcomputer control of the high frequency Q GDAT of the high frequency make the reading clear and stable and easy to operate.. The operator can at any point in the frequency or the capacitance value under the condition of Q value and tan delta, no attention span and conversion, and compley abandon the traditional Q table is dependent on the backward state of the auxiliary table operation panel printed, it is undoubtedly the electrical material high frequency dielectric loss angle tangent (Tan delta) and dielectric permittivity (epsilon) measurement of the ideal tool.
Dielectric constant loss factor tester factor (q) of the inductor is a measurement system is indispensable auxiliary tool, relating to the sensitivity and accuracy of the test. In the system it with plate capacitor BH916) constitute the based on series resonant test loop. The inductor of this system is LKI-1 inductor.
Data acquisition and tan delta automatic measurement control (into GDAT) and realizes data acquisition, data analysis and calculation of the micro processing, tan delta measurements obtained without the cumbersome manual processing, thereby enhancing the identity of the data and the precision of the measurement, manual reading value and calculation can not be compared.
Standard configuration of dielectric constant loss factor tester:
A table with Q
Test electrode a (Class C)
Inductance (9 Only)
Power cord one
Manual one
Certificate of conformity
Guarantee card
The working characteristics of dielectric constant loss factor tester
1.Q measurement
A.Q range: 2 ~ 1023;
B.Q range profile: 30, 100, 300, 1000, automatic shift or manual shift;
C. nominal error
A
C
Range of frequency
25kHz ~ 10MHz
100kHz ~ 10MHz
Inherent error
Full scale value is less than or equal to 5% + 2%
Full scale value is less than or equal to 5% + 2%
Working error
Full scale value is less than or equal to 7% + 2%
Full scale value is less than or equal to 7% + 2%
Range of frequency
10MHz ~ 60MHz
10MHz ~ 160MHz
Inherent error
Full scale value is less than or equal to 6% + 2%
Full scale value is less than or equal to 6% + 2%
Working error
Full scale value is less than or equal to 8% + 2%
Full scale value is less than or equal to 8% + 2%
2 inductance measurement range
A
C
14.5nH ~ 8.14H
4.5nH ~ 140mH
3 capacitance measurement
A
C
Direct measurement range
1 ~ 460p
1 ~ 205p
Main capacitance range
40 ~ 500pF
18 ~ 220pF
Accuracy
150pF + 1.5pF;
150pF 1%
150pF + 1.5pF
150pF 1%
Note: the method of measuring the capacitance of the capacitance measuring range is greater than the direct measurement range.
4 signal source frequency coverage
A
C
Range of frequency
10kHz ~ 60MHz
0.1 ~ 160MHz
CH1
10 ~ 99.9999kHz
0.1 ~ 0.999999MHz
CH2
100 ~ 999.999kHz
1 ~ 9.99999MHz
CH3
1 ~ 9.99999MHz
10 ~ 99.9999MHz
CH4
10 ~ 60MHz
100 ~ 160MHz
Frequency indicating error
3 x 10-5 1 words
5.ualified preset function: preset range: 5