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介电常数介质损耗测试仪/正切角测试仪

发布时间:  2024-08-13

产品型号:  GDAT-A

产品报价:  

厂商性质:  生产厂家

所  在  地:  北京市海淀区上地科技园上地十街1号

产品特点:  介电常数介质损耗测试仪

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产品概述

介电常数介质损耗测试仪

BDAT-B型高压电容电桥
主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。
主要可以测量电容器,互感器,变压器,各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗( tg)和电容量( Cx)以,其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。

 

电容率和介质损耗因数测试仪
 本公司创新的自动Q值读取技术,使测Q分辨率至0.1Q
 DPLL合成发生1kHz70MHz,测试信号。
 低至20nH残余电感,保证高频时直读Q值的误差较小。
 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
 Q值量程自动/手动量程控制。
 数字化Q值预置,能提高批量测试的可靠性和速度。

 

GDAT-a

直接测量范围
1~460pF
主电容调节范围
准确度
30~500pF
150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%
注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则

介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
项     目
GDAT-A
频率范围
10kHz~50MHz
频率分段
(虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz     
频率指示误差
3×10-5±1个字
Q合格指示预置功能
预置范围:5~1000。
Q表正常工作条件
环境温度:0℃~+40℃;                     
相对湿度:<80%; 

电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
其他
消耗功率:约25W; 

净重:约7kg;  
外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

电容率和介质损耗因数测试仪产品配置:
测试主机一台;
电感9只;
夹具一套   
电感:
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
             
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

 

介电常数介质损耗测试仪术指标
Q值测量
Q值测量范围:2~1023。
Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

 BH916介电常数介质损耗测试仪装置与CQ表及电感器配用,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

介电常数介质损耗测试仪使用方法

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

介电常数介质损耗测试仪测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)


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