Quality is life, service is the tenet
发布时间: 2024-08-12
产品型号: GDAT-A
产品报价:
厂商性质: 生产厂家
所 在 地: 北京市海淀区上地科技园上地十街1号
产品特点: 介质损耗测量仪空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。
PRODUCTS CENTER
RELATED ARTICLES
介质损耗测量仪,介质损耗试验仪,介质损耗测试仪
销售:
高级会员
第12年