高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*解决方案。
介电常数测试仪BH916测试装置GDAT高频Q表
平板电容极片Φ50mm/Φ38mm 可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500/18-220pF
测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q测试范围2~1023
北京北广精仪仪器设备有限有限公司
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联 系 人:李丛林
地 址:北京市海淀区建材城西路50号
公司:http://www.beiguangjy.com
介电常数测试仪《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品,精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 1 0μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 233 0.9 0.125μH
50MHz 211