介电常数测试仪香港正版资料

 ◆仪器技术指标：
☆Q值测量：
a．Q值测量范围：5～999。              b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。
c．标称误差
      频率范围：25kHz～10MHz；       固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；
      频率范围：10MHz～50MHz；      固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。
☆电感测量：
a．测量范围：0.1μH～1H。
b．分    档：分七个量程。
      0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH， 
      0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。
☆电容测量：
a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）；
b．电容量调节范围
      主调电容器：40～500pF；                准  确  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；
      微调电容量：－3pF～0～＋3pF；      准  确  度：±0.2pF。
☆振荡频率：
a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；
b．频率分档
25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。
c．频率误差：2×10-4±1个字。
☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。
☆仪器正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；            b．相对湿度：<80％；           c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。  
☆试样尺寸
圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时）
☆其他
a．消耗功率：约25W；            b．净重：约7kg；          c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
☆ Q合格指示预置功能
预置范围：5～1000。

香港正版资料专业北京*产品
介电常数仪  型号：BDAT-A
一 .概述：  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

二、仪器的技术指标 1．Q值测量  a．Q值测量范围：5～999。  b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。 c．标称误差        频率范围：25kHz～10MHz；        固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；       频率范围：10MHz～50MHz；        固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。 2．电感测量  a．测量范围：0.1μH～1H。 b．分    档：分七个量程。        0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，        0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。 3．电容测量  a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）； b．电容量调节范围        主调电容器：40～500pF；        准  确  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；       微调电容量：－3pF～0～＋3pF；       准  确  度：±0.2pF。 4．振荡频率  a．振荡频率范围：25kHz～50MHz； b．频率分档：  25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。  c．频率误差：2×10-4±1个字。  5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 6．仪器正常工作条件  a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％；  c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．试样尺寸  圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时） 8．其他  a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、实验步骤：  1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压 是否合适，采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。 2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。  3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根 Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。 4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测 试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。 5． 将被测样品接在“CX”接线柱上。  6．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，可以直接读出Q2，并 且Q2= Q1－△Q，。  7．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据， 再取其平均值）。  8.方形式样按其边长的4倍计算Φ值 

四、注意事项  1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面 烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。  2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压 和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。 3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层 电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。  4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。 5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡， “本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应zui小，而无大变化。

附录一、测试原理简介  一、仪器的工作原理 1．“Q”的定义       Q表是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件（电感或电容）来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。它以89C51单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。压控信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号，频率从25kHz-50MHz，共分为七个波段。信号源的频率受频率调谐和数字锁定单元的控制。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送回信号激励单元，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号源的另一路输出送到频率计数电路，在这里完成对信号的整形，预计数，然后再送到CPU实现计数。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后经数码取样转换，送到控制中心CPU去进行数据处理，同时再送给面板Q调谐指示表。由控制中心CPU处理过的频率值，Q值等其它需显示数据送到显示控制CPU，由显示控制CPU完成面板显示的控制。   

二、结构特性      采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图三面板示意图。面板左半部是频率和Q值显示，操作按键和频率调谐钮所在部位。面板右半部是调谐回路的主，付调电容所在部位。仪器的频段控制，标频设定，谐振点搜索，Q值合格点设置都以轻触按键实现控制，频率调谐由数码开关完成，面板上无一可调电位器，极大地简化了操作，又提高了可靠性。 面板各功能键说明：  1．频率显示数码管，共5位。 2．频率单位指示灯，MHz或kHz。  3．器件Q值合格指示灯，超过已设置的值时灯亮。 4．Q值指示数码管，共3位。  5．工作频段选择按键，每按一次，切换至低一个频段工作。 6．工作频段指示灯，表格内为对应的频段工作频率范围。7．工作频段选择按键，每按一次，切换至高一个频段工作。  8．工作频段内，标准测试频率设置按键，各段内标准测试频率见面板功能部分。  9．器件谐振点搜索按键，右上角指示灯亮时表示仪器正工作在自动搜索。如 需退出搜索，再按此键。 10．频率调谐数码开关。  11．Q值合格比较值设定按键。 12．Q值调谐指示表。  13．对应各工作频段的电感测量范围和标准测试频率表。  14．调谐回路的付调谐电容器调谐旋钮，它与主调谐电容并联，旋钮上方对 应的窗口内是该电容的变化范围指示刻度盘（－3～+3P）。  15．调谐回路的主调电容调谐旋钮，上方对应的窗口内为主调电容的电容值 和谐振时对应的测试电感值刻度盘。 16．电源开关  17．测试回路接线柱，左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端。

免费修理。  附表一  LKI-2电感组  电感No 电感量 准确度% Q值≥ 分布电容约略值 10 250mH ±5 50 15pF 9 25mH ±5 70 10pF 8 5mH ±5 100 10pF 7 1mH ±5 100 14pF 6 250μH ±5 150 9pF 5 50μH ±5 150 12pF 4 10μH ±5 150 7pF 3 2.5μH ±5 150 7pF  2 0.5μH 0.05μH 200 5pF 1 0.1μH 0.05μH 100 5pF 附：在测量Q值时附加说明 3．电感组  Q表是根据串联谐振和电压比值原理工作的，Q表的指示Q值是包括被测件的有效Q值及测试回路固有残量在内的整个谐振回路有效Q值，必须用Q表测试回路残量修正Q表的指示Q值，这是Q表测量的一个重要特点。  附表二  各Q值均值回路指示值Qen 和测试回路平均残量修正系数表  线圈号 测试频率  QeSTD-A  （No.81014） AS2851 STD-A  Qen 修正系数 Qen 修正系数 1 100kHz 114 104.5 0.91 108.7 0.95  2 400kHz 135 125 0.93 135 1 3  1MHz 134 131.3 0.98 134 1 4  2MHz 154 150.9 0.98 149.9 0.97  4.5MHz 183 175.7 0.96 175.9 0.96 5  4.5MHz 170 166.6 0.98 160.2 0.94  12MHz 237 213.3 0.9 215.6 0.91 6  12MHz 234 215.3 0.92 180.3 0.77  25MHz 305 265.4 0.87 255.6 0.84 7  25MHz 218 193.5 0.89 163.5 0.75  50MHz 257 224.5 0.87 235.1 0.91Qe：标准有效Q值  在一般情况下，Q表作为低精度仪器使用或利用Q表对线圈作比较测量时，可不必对残量的影响进行修正。  Q值测量误差可按Q值参考标准不同分为二类。  我厂采用的一种是以Q表生产厂家所提供并经计量部门审核的均值回路标准指示值Qen为参考标准，Q表指示Q值Qi的相对误差由下式表示：  δQi=[（Qi-Qen）÷Qen]× 100％  式中Qi为标有Qen值标准量具在Q表上的实际指示值。 注：修正系数主要用于用户测量一个器件Q值时，根据指示的Qi值换算出较准础的Q值。 

五、产品的交收检验 1．检验环境要求：  a．环境温度：20℃±2℃  相对湿度<50％； b．供电电源：220V±10V  50Hz±1Hz。 2．检验设备要求：  a．设备应在计量后的有效使用期内3．Q值指示检验  a．检验设备：WGSTD-A标准线圈一套；  b．把标准Q值线圈接入WGSTD-A电感接线柱上； c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；  d．WGSTD-A表的Q值读数与标准线圈的本机均值，Qen 间的相对误差应符合二.1.C条固有误差所规定。 本机均值系数见附表二。 4．调谐电容器准确度检验 a. 测试时应断开Q表电源；  b．设备连接如图五所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；                     图五 c．电容测试仪技术指标     测试范围：30-550pF、±5pF；     测试精度：30-550pF±0.1％、±5pF±0.05pF；  d．调谐电容器刻度盘上指示值与电容测试仪指示值之间误差应符合二.3.b条规定。  5．频率指示误差检验 a．设备连接如图六所示 b．从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端； c．频率计数器技术要求     测量范围：10Hz-100MHz；    测量误差：<1×10-6；    测量灵敏度：<30mV；  d．测试线要求：高频电缆$YV-50-3；  e．Q表频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合二.4.C条规定。介电常数测试仪操作说明  操作步骤：  1、清点步件，确认测试仪器一台，试样夹具一个，双接头导线一根，不同电 感值的电感9个。如下图:         2、接通测试仪器电源并开启仪器使仪器预热15分钟。   3、在仪器预热15分钟过程中准备好试样，试样要求为：厚度2+0.5mm，直 径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时），如果样品表面有屏蔽层，请剔除屏蔽层，同时试样表面要做到平整。   4、连接测试仪器与试样夹具间的导线，测试仪器这边导线应插在标示为接电 容的插孔内，试样夹具这边则应接在夹具上突出两个铜极上，接时先将夹具夹紧。如下图图示，但夹紧试样时勿放入试样。                 5、选择一个电感值较小的电感，将其接在测试仪器标有电感图示的处。      6、调整测试仪器频率值为与所接电感匹配的频率值，如果不知该值为多少， 试样夹具     导线      测试仪器顶部接线处     铜极     试样     接电感      试样夹具     电感      导线     测试仪       可在接好电感后，调节仪器面板主调电容，使其对应指针指示在250左右，接着按一下测试仪器面板上的“搜索”按钮，此时搜索指示灯点亮，仪器自动匹配频率值，当匹配完成后，搜索指示灯熄灭，仪器zui终显示匹配值。               7、找C1与Q1：调节仪器面板上的主调电容，可从小至大微调，同时观察面 板上Q值显示值，当Q值显示为zui大时，再调节仪器面板上微调电容，再次确认Q值为zui大值后记录下当前Q值，同时记录下主调电容与微调电容指针所指数据之和C值。记录的C值与Q值即是Q1与C1值。   8、断开试样夹具上所接导线，松开夹具，放入试样，再夹紧夹具，接好导线。 zui终接线如下图所示        9、找C2与Q2：重复前面第7步，找对应的C值与Q值，所记数据即为C2 值与Q2值。  10、 数据处理：将所记数据代入公式，得出测试结果

Dielectric constant dielectric loss tester to meet standards: GBT 1409-2006 measurement of electrical insulating materials at power, audio frequency, high frequency （ including meter wavelengths ） of the permittivity and dielectric loss factor of the recommended method
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
GDAT frequency Q table as the latest generation of universal, multi-purpose, multiple range impedance test apparatus, test frequency to achieve the highest domestic 160MHz.
GDAT HF Q meter employs a number of leading technology:
Double scan technique - testing frequency and tuning capacitor double scanning, automatic tuning the search function.
Double test element input - testing frequency and tuning capacitor value can be via a digital key input.
Dual digital tuning - digital frequency tuning, digital tuning capacitor.
Automatic measurement technology - on test implementation of Q value, resonant frequency and capacitance measurement.
The parameters of liquid crystal display, digital display main capacitor, inductance, Q value, signal source frequency, resonant pointer.
DDS direct digital synthesis signal source to ensure that the source of high frequency Baozhen, high precision, high stability margin.
Computer automatic correction and test loop optimization - make test loop residual inductance to a minimum, the complete eradication of Q reading values at different frequencies to be amended puzzle.
Gdat HF Q form innovation design, no doubt for the high frequency components of the impedance measurement provides the perfect solution, it gives in high-frequency electronic design engineers, researchers, university laboratory and electronics manufacturing industry to provide a more convenient detection tool
Measurement, measuring is more accurate, more efficient. The user can at any given frequency apparatus, arbitrary point tuning capacitance detection device without attention to quality, range and conversion unit.
One, the dielectric constant dielectric loss tester overview
Dielectric loss and dielectric constant are all kinds of porcelain, porcelain, ceramic capacitor device, and composite materials is an important physical properties, by measuring the dielectric loss tangent of dielectric constant （ Tan δ andε）, to further understand the effects of dielectric loss and dielectric constant of the various factors, in order to improve the material the property basis; instrument basic principle is the use of high frequency resonance method, and provides, universal, multi-purpose, multiple range impedance test. It uses single-chip computer as the control core of measuring instrument, using the frequency locking, frequency standard test point automatic setting, resonant point automatic search, Q value range automatic conversion, numerical display and other new technology, improved the tuning circuit, the tuning circuit for testing the residual inductance is reduced to the minimum, and retains the original Q table in the automatic amplitude stabilizer technology, makes the new instrument in the use of more convenient, measurement is more accurate. Instrument in high frequency test conditions, measurement of high frequency inductive or resonant loop of the Q value, the inductance of the inductor is the amount and distribution of capacitance, capacitance and loss angle tangent value of electrical materials, dielectric loss in high frequency, high frequency circuit in parallel and series resistance, the characteristic impedance of the transmission line and so on.
The apparatus used in scientific research institutions, schools, factories and other units to inorganic metalloid new material property application research.
Main technical characteristics
Q measurement range of 2 ~ 1023, range profile: 30, 100, 300, 1000, automatic or manual shift
Inherent error≤5% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 6%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Operating error≤7% ±full scale value of 2% （ 200kHz ～10MHz ）, 8%±full scale value of 2% （ 10MHz ～160MHz ）
Inductance measuring range of 4.5nH～ 140mH
Capacitance measuring range 1～ 200pF
The main capacitor regulation range 18～ 220pF
The main capacitor regulation accuracy below 100pF± 1pF±1%; 100pF
Signal source frequency coverage range of 100kHz～ 160MHz
Frequency segmentation （ virtual ） 100～ 999.999kHz, 1～ 9.99999MHz, 10～ 99.9999MHz, 100～ 160MHz
Frequency indication error of 3× 10 -5±1 words
With a new dielectric dissipation device with GDAT Series Q table use
A. An overview
BD916 dielectric loss test device and the company's production of various high-frequency Q matching table, can be used to measure the insulating material of the permittivity and dielectric dissipation factor （ Tan ）.
BD916 dielectric loss test device is the replacement of BD916914, it uses a number of microscope measuring device, so the reading is convenient, accurate data.
The test device consists of a LCD digital display device for measuring and a pair of spaced adjustable flat plate capacitor pole pieces.
Flat capacitor polar plate for holding the material to be measured sample, micro measuring device would display the measured sample of the material thickness.
BD916 dielectric loss test device shall be equipped with the Q table as a tuning indicator instrument, through the tested samples of materials into the panel capacitor and do not put it in the sample when the variation of Q value, the measured dielectric material loss angle tangent value.
From the panel capacitor plate spacing reading variation can be calculated in terms of dielectric material.
BD916 dielectric loss test device technical characteristics
Flat capacitor: pole piece size:Φ 50mm/Φ 38mm optional
Pole spacing adjustable range:≥ 15mm
The 2 clamp plug spacing: 25mm± 0.01mm
The 3 fixture loss tangent value ≤ 4× 10-4 （ 1MHz ）
4 micrometer rod resolution: 0.001mm
Inductance:
Coil test frequency distributions of Q values of P inductance capacitance
9 100KHz 989.4 25mH
8 400KHz 13811.4 4.87mH
7 400KHz 20216 0.99mH
6 1MHz 19613252 μ H
5 1988.7 49.8 μ H 2MHz
4 4.5MHz 231710 μ H
3 1936.9 2.49 μ H 12MHz
2 2296.4 0.508 μ H 12MHz
1 25MHz, 0.125μ H 50MHz 2332110.9
Canton company other insulating materials testing instruments:
BDJC-0-100KV dielectric breakdown testing instrument
BDJC series insulating materials at power frequencies of dielectric breakdown test instrument
BDJC series voltage dielectric strength test apparatus
BDJC series voltage breakdown testing instrument
BDJC series insulating paint film breakdown strength tester
BDJC capacitor voltage breakdown testing instrument
EST-121 volume surface resistivity measuring instrument
GDAT-A dielectric loss tester / dielectric constant test
GDAT-C model dielectric constant dielectric loss tester
BDH leakage resistance tester
BDH-B arc resistance tester
Pay attention to every detail is Canton company for each customer commitment, and North Canton company has been pursuing the aim of.
China Inspection and certification services tip and inlectual leader, helped many testing quality inspection units and schools and research units to provide comprehensive one-stop quality solutions.
Beijing North Canton precision instrument equipment limited