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介电常数介质损耗测试仪的使用方法

来源:技术文章    更新时间:2015-11-06    浏览:2066次

介电常数介质损耗测试仪

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

1.测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)


介电常数介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前高的160MHz。

1 双扫描技术 -          测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2 双测试要素输入 -      测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3 双数码化调谐 -        数码化频率调谐,数码化电容调谐。

4 自动化测量技术 -      对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5 全参数液晶显示 –     数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高、幅度的高稳定。

7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。


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