介电常数介质损耗测试装置使用说明书
一. 介电常数测试仪概述
B916 介质损耗测试装置可与本公司生产的各型号,对绝缘材料进
行高频介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)的测试。介质损耗测试
装置采用了带数显的微测量装置,因而在测试时,读数更直观方便,数据更。
二. 介电常数测试仪工作特性
1. 平板电容器:
极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围:≥15mm
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.测微杆分辨率:0.001mm
三. 介电常数测试仪工作原理
本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组
成,平板电容器用于夹持被测材料样品。而数显的微测量装置,用于显示被测材
料样品的厚度。配用Q 表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容
器和不放进材料样品时的Q 值变化,可测得绝缘材料的损耗角正切值。同时,
由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到绝缘材料介电常数。
四. 介电常数测试仪使用方法
各部件名称:
6位数字显示;In: 英制测量模式;INC:相对测量模式;ABS:测量模式;Set:初始值设置; :电池电压低报警( 电池的更换见后面五注意事项 ); :数据输出。
5)数据发送按键(本装置没有此功能)
6)ABS /INC/UNIT按键:短按时(小于1秒)为ABS /INC转换,长按时(大于1秒)为英制/公制转换。
7)ON/OFF/ SET按键:短按时为开关液晶显示屏;长按时为初始值设置。
8)平板电容器极片
9)夹具插头
2.被测样品的准备
被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。
下面推荐一种能提高测试性的方法:准备二片厚0.05mm的圆形锡膜,直径和平板电容器极片一致,锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林,它起粘着作用,又能排除接触面之间残余空气,把锡膜再粘在平板电容器两个极片上,粘好后,极片呈镜面状为佳,然后放上被测样品。
3. 测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取250uH,15MHz时电感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按键,打开液晶显示屏。
e. 调节平板电容器测微杆,使平板电容器二极片相接为止,长按SET按键将初始值设置为0。
4.介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的
北京市海淀区建材城西路50号 :
测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容
量,使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,此时调节平板电容器,
使Q 表再回到谐振点上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数:
Σ=D2 / D4
5.介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。
把被测样品插入二极片之间,改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点
上,读得Q 值,记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,再改变Q 表上的主调电容
容量,使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值,记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置,再改变Q 表上的主调电容容量,重新使之谐振,电
容读数记为C3,此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 -C1
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